Abdelghani Lakel, Sabrina Roguai

Studio della microstruttura delle polveri

Il metodo di Warren e Averbach. Sprache: Italienisch.

kartoniert , 56 Seiten

ISBN 6208844215

EAN 9786208844219

Veröffentlicht Juli 2025

Verlag/Hersteller Edizioni Sapienza

€ 43,90 inkl. MwSt.

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Beschreibung

Idealmente, la diffrazione dei raggi X da parte di un cristallo produce picchi di Dirac agli angoli di diffrazione; la rappresentazione grafica dell'intensità diffratta in funzione dell'angolo 2- è chiamata diagramma di diffrazione o diffrattogramma o spettro di diffrazione.L'analisi dei diagrammi di diffrazione porta all'interpretazione delle strutture e delle proprietà microstrutturali dei campioni cristallizzati. Tuttavia, esistono diversi fattori che influenzano la posizione e l'ampiezza del picco e l'intensità diffratta, tra cui la dispersione spettrale, la rifrazione, il fattore di assorbimento e il fattore di Lorentz.