Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l'Optique des Rayons X et la Microanalyse - Gottfried Möllenstedt

Gottfried Möllenstedt

Vth International Congress on X-Ray Optics and Microanalysis / V. Internationaler Kongreß für Röntgenoptik und Mikroanalyse / Ve Congrès International sur l'Optique des Rayons X et la Microanalyse

Auflage 1969. XII, 612 S. 690 Abbildungen, 3 Abbildungen in Farbe. Dateigröße in MByte: 71.
pdf eBook , 612 Seiten
ISBN 366224778X
EAN 9783662247785
Veröffentlicht Juli 2013
Verlag/Hersteller Springer

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Taschenbuch
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