Metodologia wyboru systemów pomiarowych

W niniejszej rozprawie przedstawiono rekomendacje dotycz-ce usprawnie- w metodyce doboru systemów pomiarowych. Podstawow- zasad- oryginalnej metodyki jest z-o-enie dwóch etapów: "zamówienia" (zestaw parametrów charakteryzuj-cych zadanie pomiarowe) oraz etapu "procesu selekcji" (sk-adaj-cego si- z informacji technicznych, logistycznych i ekonomicznych sformu-owanych w arkuszach kalkulacyjnych, kryteriów oceny z okre-lonymi wagami ustalonymi przez metrologa oraz analizy porównawczej systemów kandyduj-cych). W niniejszej pracy opisano metod- i zaproponowano zalecenia z wi-kszym naciskiem na teorie i zalecenia bibliograficzne kilku autorów, jak równie- zalecenia normatywne, w tym sugestie: uzupe-nienia parametrów selekcji (wymagä metrologicznych), wdro-enia systemu zapewnienia jako-ci metrologicznej, pozyskiwania informacji z wymagä metrologicznych, systemowej wizji procesu jako-ci metrologicznej, programów audytowych i mi-dzylaboratoryjnych oraz pozyskiwania i utrzymywania informacji z systemów pomiarowych i wzorcowä, przy czym wszystkie zalecenia s- ukierunkowane na wymagan- zgodno-- procesu pomiarowego.

El profesor Jackson Luis Schirigatti tiene una maestría en Ingeniería Eléctrica de la UFPR (2011), un especialista en Ingeniería de Negocios de la PUC-PR (2008), un especialista en Tutoría y Gestión en EAD de la Uniasselvi (2016) y una licenciatura en Sistemas de Información de la TUIUTI (2004).