Analiza metryk projektowania obiektowego

Pomiar to proces okre-lania wielko-ci ilo-ciowej i jako-ci produktu. W dziedzinie in-ynierii oprogramowania metryki s- wykorzystywane do celów ilo-ciowych i jako-ciowych. Analizuj-c metryki, programista mo-e skorygowä te obszary procesu tworzenia oprogramowania, które s- przyczyn- wad oprogramowania lub awarii produktu. Metryki oprogramowania s- szeroko stosowane w bran-y oprogramowania do pomiaru z-o-ono-ci, rozmiaru, modu-owo-ci, testowalno-ci, u-yteczno-ci, niezawodno-ci lub -atwo-ci konserwacji fragmentu kodu -ród-owego. Zaproponowano wiele ró-nych metryk obiektowych do oceny projektu, jako-ci, testowalno-ci i -atwo-ci konserwacji systemu obiektowego. Ró-ni badacze skupiaj- si- na ró-nych w-äciwo-ciach systemu obiektowego, takich jak enkapsulacja, dziedziczenie, z-o-ono-- i polimorfizm. Projektowanie obiektowe staje si- coraz bardziej popularne w -rodowisku tworzenia oprogramowania, a metryki projektowania obiektowego s- istotn- cz--ci- -rodowiska oprogramowania. Niniejsze badanie koncentruje si- na zestawie metryk obiektowych, które mog- by- wykorzystane do pomiaru jako-ci projektu obiektowego, a tak-e analizuje niektóre metryki CK przy u-yciu narz-dzia Understand 2.6.

Ruchi Kamra jest adiunktem na Wydziale Informatyki Uniwersytetu Amity w stanie Haryana. Uzyskäa tytu- magistra in-yniera informatyki na Uniwersytecie GGSIPU w Delhi oraz tytu- in-yniera informatyki na Uniwersytecie Kurukshetra w Kurukshetra. Jej zainteresowania naukowe obejmuj- in-ynieri- oprogramowania, eksploracj- danych i analiz- du-ych zbiorów danych.