G. Pfefferkorn>, L. Reimer>

Raster-Elektronenmikroskopie

2. , neubearbeitete und erweiterte Auflage.
kartoniert , 300 Seiten
ISBN 3540081542
EAN 9783540081548
Veröffentlicht Juni 1977
Verlag/Hersteller Springer Berlin Heidelberg

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Beschreibung

Kristall 47 2. 6. 2. Beugung in Transmission . . . . . . . . 51 2. 6. 3. EinfluB der Beugung auf die Riickstreuung . 54 Literatur zu § 2 . . . . . . . . . . . . . . . . . 56 3.

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