Methodologie voor de selectie van meetsystemen

In dit proefschrift worden aanbevelingen gedaan voor verbeteringen in de methodologie voor de selectie van meetsystemen. Het basisprincipe van de oorspronkelijke methodologie is de samenstelling van twee fasen: de "vraag" (reeks parameters die de meettaak karakteriseren) en de fase van het "selectieproces" (bestaande uit technische, logistieke en economische informatie, geformuleerd in evaluatiespreadsheets, uit de evaluatiecriteria met specifieke door de metroloog bepaalde gewichten en uit de vergelijkende analyse van de kandidaat-systemen). In dit werk wordt de methode beschreven en worden aanbevelingen gedaan met een meer oordeelkundig accent, gebaseerd op theorieën en bibliografische aanbevelingen van verschillende auteurs, alsmede normatieve aanbevelingen, waaronder de suggesties: toevoeging van selectieparameters (metrologische eisen), de implementatie van het systeem voor metrologische kwaliteitsborging, het verwerven van informatie uit de metrologische eisen, systemische visie op het metrologische kwaliteitsproces, audit en interlaboratoriumprogramma's, en het verwerven en bijhouden van de informatie uit de meetsystemen en ijkingen, zijnde alle aanbevelingen gericht op de vereiste conformiteit van het meetproces.

El profesor Jackson Luis Schirigatti tiene una maestría en Ingeniería Eléctrica de la UFPR (2011), un especialista en Ingeniería de Negocios de la PUC-PR (2008), un especialista en Tutoría y Gestión en EAD de la Uniasselvi (2016) y una licenciatura en Sistemas de Información de la TUIUTI (2004).