Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Die Autoren des Buches fassen ihre im Zuge vielseitiger Lehrtätigkeit gesammelten Erfahrungen zu häufig gestellten Fragen und Problemen von Anfängern im Umgang mit dem analytischen Transmissionselektronenmikroskop anschaulich zusammen. Dabei bilden Erklärungen anhand einfacher Modellvorstellungen und Hinweise zur praktischen Umsetzung des Erlernten die Schwerpunkte des Buches.
Dieses praxisnahe Lehrbuch bietet somit eine klare und verständliche Einführung für all jene, die für Ihre Arbeit das Transmissionselektronenmikroskop verwenden wollen, jedoch noch nicht speziell dafür ausgebildet sind.

Jürgen Thomas (Jahrgang 1948) studierte 1966 bis 1971 an der Technischen Universität Dresden Physik. Er diplo­mierte und promovier­te bei Prof. Alfred Recknagel in Dresden mit Arbeiten zur Elektronen­mikroskopie und zu Elektron-Festkörper-Wechselwirkungen. Ab 1978 war er in der Industrie­forschung für die Ent­wicklung von Elektronenstrahlschweiß- und Vaku­umtechnologien verant­wortlich. 1990 wandte er sich wieder der Elektronenmikroskopie zu und trat in das jetzige Leib­niz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden ein, wo er bis heute im La­bor für analy­tische Transmissionselektronenmikroskopie arbeitet.
Thomas Gemming (Jahrgang 1969) studierte 1988 bis 1994 an der Technischen Hochschule Karlsruhe Physik. Er promovierte 1998 auf dem Gebiet der höchstauflösenden Transmissions­elektronenmikroskopie am Max-Planck-Institut für Metallforschung in Stuttgart bei Prof. Man­fred Rühle. Als wissenschaftlicher Mitarbeiter erweiterte er sein Arbeitsgebiet auf die analyti­sche Elektronenmikroskopie. Im Jahr 2000 wechselte er an das Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden, wo er die Abteilung Mikro- und Nanostrukturen leitet. Er ist Geschäftsführer der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikro­skopie e.V.