Evaluatie van een A/D-converterparameter

ADC-tests zijn een belangrijke activiteit die een belangrijke rol speelt bij het bepalen van de nauwkeurigheid van een systeem. Veel toepassingen observeren metingen met behulp van ADC. Een dergelijke toepassing brengt een hoge nauwkeurigheid en resolutie met zich mee, en wordt dus geleverd door het dynamische bereik van het signaal. De waarden van ADC-parameters kunnen in de toekomst worden verbeterd door het aantal monsters, de frequentie en de overdrive te verhogen. Het testalgoritme kan worden toegepast op experimentele ADC-analyse in real time. Gewijzigd code-dichtheidsalgoritme dat het effect van fouten op de histogramgegevens vermindert. Dit algoritme kan hetzelfde niveau van nauwkeurigheid bereiken als het conventionele code-dichtheidsalgoritme, maar dan met een aanzienlijk kleiner aantal monsters, wat een kortere testtijd en lagere testkosten betekent. De nieuwe methode is zeer efficiënt en kan worden gebruikt om het testen van ADC's met hoge resolutie met een betere dekking mogelijk te maken en de tijd en kosten van het testen van ADC's met gemiddelde resolutie te verminderen. Dit boek is vertaald met Kunstmatige Intelligentie.

Dr. MANISH JAIN Associate Professor, EEE Department, Mandsaur University, Mandsaur (M.P.) obtained PhD in 2015 in ECE. He has published more than 30 papers in International journal and listed in IEEE conference Proceedings. Under his guidance Student projects have been sanctioned for Financial Assistance by Department of Science & Technology (DST)