Évaluation d'un paramètre de convertisseur A/N

Les tests ADC sont une activité importante qui joue un rôle essentiel dans la décision de la précision d'un système. De nombreuses applications observent la mesure à l'aide de la CNA. Une telle application implique une haute précision et une haute résolution, donc elle est fournie par la gamme dynamique du signal. Les valeurs des paramètres de l'ADC peuvent être améliorées à l'avenir en augmentant le nombre d'échantillons, la fréquence et l'overdrive. L'algorithme de test peut être appliqué à l'analyse expérimentale de l'ADC en temps réel. Algorithme de densité de code modifié qui réduit l'effet des erreurs sur les données de l'histogramme. Cet algorithme peut atteindre le même niveau de précision que celui de l'algorithme de densité de code classique, mais en utilisant un nombre d'échantillons nettement inférieur, ce qui signifie une durée de test plus courte et un coût de test moindre. La nouvelle méthode est très efficace et peut être utilisée pour permettre de tester des CDA à haute résolution avec une meilleure couverture et réduire le temps et le coût des tests des CDA à moyenne résolution. L'intelligence artificielle a été utilisée pour traduire ce livre.

Dr. MANISH JAIN Associate Professor, EEE Department, Mandsaur University, Mandsaur (M.P.) obtained PhD in 2015 in ECE. He has published more than 30 papers in International journal and listed in IEEE conference Proceedings. Under his guidance Student projects have been sanctioned for Financial Assistance by Department of Science & Technology (DST)