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The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth.
Ch Sateesh Kumar
1.Introduction to material characterization 2. X-Ray Diffraction (XRD) 3. Nanomechanical system 4. X-Ray photo spectroscopy (XPS) 5. Scanning electron microscope (SEM) 6. Field emission scanning electron microscope (FESEM) 7. Transmission electron microscope (TEM) 8. Atomic Force Microscope (AFM) 9. Near-field scanning optical microscope Raman 10. Optical characterization instruments 11. Synchrotron techniques 12. Other advanced instruments used for characterization of functionally graded materials
