Testfreundliche Synthese hochintegrierter Schaltungen

Hochkomplexe elektronische Schaltungen werden in immer mehr Bereichen der Technik eingesetzt, in denen es auf eine hohe Zuverl{ssigkeit ankommt, wie z.B. der Medizin und der Verkehrstechnik. Eine effiziente ]berpr}fung dieser Schaltungen, m|glichst in Form eines "Selbsttests", ist deshalb von entscheidender Bedeutung. Das Buch beschreibt zun{chst Verfahren f}r den automatisierten Entwurf und den Test hochintegrierter Schaltungen und f}hrt dann beide Themengebiete zu einer einheitlichen Entwurfsmethodik zusammen. Der Test - als externer Test mit Hilfe von Pr}fpfaden oder als Selbsttest - wird damit zu einem organischen Bestandteil des Entwurfs. Die Zuverl{ssigkeit von Schaltungen kann so mit erheblich geringeren Mehrkosten als bisher gesteigert werden. Das Buch spricht neben Fachleuten f}r Entwurfswerkzeuge vor allem Entwickler hochintegrierter Schaltungen an. Der Autor wurde f}r diese Arbeit mit dem VMI-Preis 1991 des Verbands der Metallindustrie Baden-W}rttemberg ausgezeichnet.

1 Einleitung.- 1.1 Motivation.- 1.2 Ziel der Arbeit.- 1.3 Aufbau der Arbeit.- 2 Synthese und Test hochintegrierter Steuerwerke.- 2.1 Steuerwerksentwurf.- 2.2 Testmethoden.- 2.3 Entwurfsmaßnahmen zur Verbesserung der Testbarkeit.- 2.4 Stand der Technik.- 3 Testfreundliche Steuerwerksstrukturen.- 3.1 Grundprinzipien testfreundlicher Steuerwerke.- 3.2 Integration von Selbsttestregistern.- 3.3 Integration von Prüfpfaden.- 4 Zustandscodierung für testfreundliche Steuerwerke.- 4.1 Anforderungen an die Zustandscodierung.- 4.2 Optimale Zustandscodierung.- 4.3 Übersicht über konventionelle Codierungsverfahren.- 4.4 Codierungsverfahren für testfreundliche Strukturen.- 5 Steuerwerke mit integrierten Selbsttestregistern.- 5.1 Einbeziehung von Testmustergeneratoren in die Synthese.- 5.2 Einbeziehung von Signaturregistern in die Synthese.- 5.3 Synthese von Steuerwerken mit parallelem Selbsttest.- 5.4 Bewertung der vorgestellten Verfahren.- 6 Steuerwerke mit integriertem Prüf pfad.- 6.1 Einbeziehung von Prüfpfaden in die Synthese.- 6.2 Schaltwerke mit "emuliertem Prüfpfad ".- 7 Zusammenfassung und Ausblick.- 7.1 Erzielte Ergebnisse.- 7.2 Weiterführende Arbeiten.- A.1 Einfluß der Zustandscodierung auf die Steuerwerksgröße.- A.2 Implementierungen testfreundlicher "Boundary Scan "-Steuerwerke.- A.2.1 Konventioneller Selbsttest.- A.2.2 Paralleler Selbsttest.- A.2.3 Konventioneller Prüfpfad.- A.2.4 Nutzung des Prüfpfades im Systembetrieb.- A.2.5 Emulierter Prüfpfad.- A.3 Abschätzung der Fläche von PLA-Steuerwerken.- Verwendete Formelzeichen, Indizes und Abkürzungen.